質構儀探頭-食品探頭 TA/CFS（脆性斷裂支撐臺） 通過探頭下壓可用于測試米制小食品的酥脆性

訪問量：1567 更新時間：2025-10-12 所在地：上海市

質構儀探頭-食品探頭 TA/SFR 可測量折斷壓力和彎曲特性，主要用于干面條的測試，由于硬質小麥的發(fā)芽損傷導致面條質地損傷，或者不同的烘干程序使面條產生了不同的特性，通過該方法可以反映面條的質地，包裝運輸過程中的抗折斷性。尤其是不僅僅完成常規(guī)的斷條率測試，還可以幫助用戶了解折斷強度和抗彎柔性信息。

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質構儀探頭-食品探頭 TA/DSC 主要用于面團粘性的測試，也可以用于米糕等具有粘彈性樣品的膠粘性（stickiness）測試。

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質構儀探頭-食品探頭 TA/DP 用于面及面制品，可測量面團的流變性，面團的硬度和發(fā)酵率。樣品放入測試室中.用通孔活塞的長釘把面團中隨機分布的氣泡驅除.再用平頭活塞壓制出光滑的表面，后用6mm的柱型探頭測試硬度。

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質構儀探頭-食品探頭 TA/SPR 該抗拉強度試驗臺，可測面條的斷裂強度和拉伸彈性，面條兩端嵌入上下兩輥子的中縫并旋轉2-3周以防面條滑動。輥子的設計確保了測試時樣品不致裂開、剪斷、，并使拉斷點只發(fā)生在中間的拉伸測試部分。

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